叢集性頭痛患者的認知加工：來自事件相關(guān)電位的證據(jù)

1. 研究背景

叢集性頭痛（CH）的外周和中樞疼痛起源一直是一個有很多爭論的問題。功能成像技術(shù)的發(fā)展和應用，為CH并非一種外周疾病的起源提供了更多的證據(jù)，事實上，中心區(qū)域可能更為重要。事件相關(guān)電位在皮質(zhì)功能評估中具有優(yōu)勢，但迄今很少有研究將此方法應用于叢集性頭痛。

2. 研究方法

2.1被試

本研究招募了叢集性頭痛患者17例（15名男性，平均年齡35.4歲）和15名年齡匹配的健康被試（13男性，平均年齡34.6歲）。

2.2 實驗材料及流程

刺激包括目標刺激（圖1呈現(xiàn)概率為20%）和標準刺激（圖2呈現(xiàn)概率為80%）。兩種刺激的持續(xù)時間均為105毫秒，刺激間間隔（ISI）在1000 ~ 1500 ms之間隨機變化

（平均值1200毫秒）。共有兩個獨立的區(qū)塊，每個區(qū)塊由160個刺激物組成。

實驗要求被試按照指示專注于屏幕中心的固定十字，并在他們觀看目標刺激時盡可能快速和準確地按下按鈕（圖1）。準確率是觀看目標刺激時按下按鈕的速度，反應時是觀察目標刺激和準確按下按鈕之間的時間長度。

2.3. 數(shù)據(jù)記錄與分析

在被試進行認知任務的同時記錄腦電數(shù)據(jù)，分別記錄了F3、F4、Fz、C3、C4、Cz、P3、P4、Pz電極點的數(shù)據(jù)，采樣率設置為500Hz，帶通濾波范圍是0.05-100Hz，實驗過程中保證電極阻抗降到5kΩ以下。

以左右乳突平均值進行重參考，隨后校正EOG偽跡，分段時間設置為-200至1000ms，排除了幅值超過±100μV的數(shù)據(jù)。然后分析300-500ms時間段內(nèi)是否出現(xiàn)了P3成分，采用重復測量方差分析的統(tǒng)計方法，刺激類型和腦區(qū)作為被試內(nèi)變量，被試類型作為被試間變量。

3. 研究結(jié)果

相比于控制組，叢集性頭痛患者的P3/P3d波幅顯著降低；而疼痛側(cè)的P3/P3d波幅與對側(cè)相比無顯著差異。

4. 結(jié)論

此項研究的結(jié)果提供了叢集性頭痛患者認知加工功能障礙的證據(jù)，也可能對叢集性頭痛的病理生理學有著一定的貢獻。

5. 文獻及DOI號

Wang, R. ,  Dong, Z. ,  Chen, X. ,  Liu, R. ,  Zhang, M. , &  Wu, J. , et al. (2014). Cognitive processing of cluster headache patients: evidence from event-related potentials. The Journal of Headache and Pain, 15: 66.